详解曝光显影工艺原理流程

曝光显影工艺原理

一、曝光原理

曝光是一种利用光线能量使感光材料发生化学或物理变化的过程。在不同的应用场景下,如印制电路板(PCB)制作、蚀刻加工和光刻技术等,其原理有一些共通之处。

在PCB制作中的原理:在PCB制造时,使用紫外线(UV)照射涂布有感光材料(如干膜或油墨)的基板。如果有掩膜版(类似底片)的遮挡,掩膜版上透明部分对应的区域接受紫外线照射,这部分感光材料发生光化学反应。例如,在阻焊曝光过程中,经过丝印工序后的PCB板在菲林底板的遮挡下接受紫外线辐照,阻焊部分的油墨在曝光后发生聚合反应,这是一种分子间连接形成大分子结构的反应,使得这部分油墨性质发生改变,为后续显影做准备。

在蚀刻加工中的原理:以金属蚀刻为例,先将需要蚀刻的图案通过光绘转移到菲林胶片上,然后将涂布感光油墨的蚀刻片置于两片对准后的菲林中间固定。曝光时,菲林胶片黑色部分遮挡下方的钢片使其不被感光,而空白部分对应的蚀刻钢片受到感光,钢片上感光的油墨发生聚合反应。这种聚合反应的本质是光引发了油墨分子内部化学键的重新组合和连接,形成较为稳定和坚固的结构,改变了油墨的溶解性等性质,从而能够与未感光油墨在后续显影步骤中区分开来。

在光刻技术中的原理:光刻技术中的曝光是精密地将掩模板上的图案转写到光刻胶上的光化学反应。对于镀膜的基板,首先涂上光刻胶,然后通过曝光机使掩模板上的图形按照设计精确地成像在光刻胶层。当光线照射光刻胶时,光刻胶内部的分子结构根据其性质发生相应改变,如正性光刻胶在曝光部分会在显影液中更容易溶解,而负性光刻胶则相反,曝光部分变得更加难以溶解。

二、显影原理

显影是基于曝光后的变化,有选择地去除或保留感光材料,从而使期望的图形图案显现出来的过程。它可以分为正显影和反转显影。

  • 正显影原理:在正显影过程中,显影液中的显影剂与感光材料(如光刻胶或者干膜等)作用。以光刻技术中的正性光刻胶为例,光刻胶在曝光后,曝光区域的分子结构改变使得其在显影液中的溶解性增强。显影剂分子带有特定的离子或者官能团,与曝光区域的光刻胶分子发生化学反应或者物理吸附等相互作用,从而将这些曝光区域的光刻胶溶解去除,未曝光区域则保持不变,最终得到与掩膜版上图案对应的图形。例如在软片自动显影机中,已感光的胶片进入显影箱,感光片等速通过显影液,显影液对已曝光的感光材料进行选择性溶解来实现正显影过程。

  • 反转显影原理:反转显影中感光鼓与色粉电荷极性是相同的。在这个过程中,显影材料与曝光后材料的相互作用逻辑与正显影相反。例如在某些打印复印技术中,利用这种反转机制,可以通过调整曝光和显影的参数以及材料的性质,使未曝光区域去除或者改变某一特性(如颜色、导电性等)来实现特殊的图形显示效果。不过这种技术相对较少应用在如PCB制造、类似传统材料的蚀刻加工等大规模制造场景中,更多应用于影像处理和特定的打印复制领域。

常见曝光显影工艺类型及原理

一、传统光学曝光显影

  • 原理:传统光学曝光显影依靠紫外(UV)光作为曝光能源,透过掩膜版将图形转印到感光材料(如光刻胶、干膜等)上。掩膜版上的透明区域允许光线透过并照射到感光材料上,被照射的感光区域发生光化学反应,如聚合反应或化学键断裂等。照射后在显影过程中,使用显影液去除未曝光区域(对于正性感光材料)或者曝光区域(对于负性感光材料)的感光材料,从而将掩膜版上的图形复制到基底材料上。这种传统的光学曝光设备相对简单,例如汞灯曝光机,在PCB制造、玻璃蚀刻以及一些简单的半导体工艺初期阶段被广泛应用。

  • 局限性:其分辨率受限于光源波长和光学系统的衍射极限。随着现代电子产品向着更高集成度、更小尺寸元器件发展,传统光学曝光显影工艺难以满足精细图案制造需求。例如在当代芯片制造中,传统汞灯曝光机由于光斑较大不能制造出亚微米甚至纳米级别的线路图案,而且由于采用接触式或者接近式曝光方式(掩膜版与感光材料近距离接触或者很接近地进行曝光),容易在大面积生产过程中造成掩膜版磨损和对感光材料表面的损伤,影响产品良率和图案可靠性。

 

二、电子束曝光显影

  • 原理:电子束曝光是用聚焦后的电子束在感光材料(光刻胶)表面进行扫描,通过电子与光刻胶分子的相互作用引发化学反应。当电子束打到光刻胶上时,电子与光刻胶分子的轨道电子相互作用,沉积足够能量将打破光刻胶分子内部化学键或者诱导分子发生交联反应。相比传统光学曝光,电子束曝光的能量更高且能量密度在小范围内可以精确控制,因此可以制造出更小尺寸的图案。例如在先进的芯片制造中,可以通过计算机控制电子束的扫描路径和剂量,实现纳米级别的线宽图案制作。电子束蒸发光刻胶后的样品经过显影步骤,显影液去除被电子束扫描区域的光刻胶(依据光刻胶正负型及电子束成像区域性质),最终实现极其精细的图形转移。

  • 特点与应用范围:电子束曝光显影具有极高的分辨率,可以轻松实现小于100nm甚至更低尺寸图案的制作,可用于超精密芯片制造,例如在高Q值超导微纳谐振器、量子芯片中的微小约瑟夫森结等超精细结构制造中是不可或缺的工艺。但同时,电子束曝光设备成本极高,操作复杂,而且曝光速度较慢(相比光学曝光),所以目前主要用于少量样品制造、高附加值电子产品研发如高端芯片早期研发或者科研领域微纳结构制造等情境下,难以大批量应用于工业生产如大众消费类电子产品的芯片大规模制造。

 

三、激光直写曝光显影

  • 原理:激光直写曝光以激光束直接聚焦在感光材料表面进行曝光。激光具有高的相干性、方向性和单色性,能够被高度聚焦成很小的光斑(直径可达到微米甚至亚微米级别),为高精度光刻提供了技术基础。激光照射在光刻胶(或其他感光材料)上时,光子能量被光刻胶分子吸收,使分子内部能量升高并引发化学反应,通常为化学键的断裂或者交联等反应。然后通过显影过程选择性去除特定区域的光刻胶形成期望的图形。不同类型和波长的激光可以针对不同的感光材料和光刻工艺需求进行选择。例如,紫外波段(如355nm、266nm等)的激光常用于光刻胶的曝光,因为光刻胶对这些紫外光具有较好的吸收性和光化学反应活性。

  • 应用与发展现状:激光直写曝光显影在微加工领域具有很广泛的应用范围。它既可以用于科研单位在微纳光学器件、生物微流控芯片等小批量高精度器件的制作,也在一些对图案精度有较高要求但不需要大规模生产的工业场景中被使用。同时,随着激光技术的发展,激光直写设备成本逐步降低、速度不断提高,未来有望逐渐扩大其在更多工业领域的应用,尤其在中高端电子器件制造领域逐渐替代部分传统光学曝光工艺。但是目前仍然面临一些挑战,如激光能量分布在光斑边缘可能存在不均匀性影响图案边缘精度,还有激光与感光材料相互作用机制复杂需要精确的控制和深入研究等。

先进极紫外光刻(EUVL)

原理:极紫外光刻(EUVL)使用极紫外光(波长为13.5nm)进行曝光。这种极紫外光是通过高功率的激光照射锡等特殊靶材产生的等离子体发射出来的。EUV光具有极短的波长,可以突破传统光刻技术中的衍射极限,从而实现更高的分辨率。在EUVL工艺中,光刻胶受到EUV光照后,光子能量被光刻胶分子吸收,发生一系列复杂的光化学反应,使得光刻胶在分子级别的结构和化学性质上发生改变。例如光刻胶分子中的化学键的断裂和重构,形成具有不同溶解性的区域,以便在显影过程中准确地显出需要的图案。由于EUV光的波长极短,光刻时的像差极低,可以在硅片上制造出前所未有的精细线条和结构。
真空环境维护:由于EUV光在空气中极易被吸收,整个EUV光刻系统工作在极高真空度的环境下,一般要求达到10 – 100mPa的真空度范围。在光刻之前,需要对曝光腔室、光刻胶传输装置等整个系统进行严格的真空抽气并维持真空环境,防止空气对EUV光的吸收和干扰。
光刻胶选型与涂覆:EUV光刻所使用的光刻胶具有特殊的设计要求,其对EUV光的高敏感性、高分辨率和低粗糙度等特性能量。光刻胶通过高精度的涂覆设备均匀地涂覆在硅片表面,涂层厚度需要严格控制在纳米级别,例如对于一些先进制程可能要求光刻胶厚度在20 – 50nm之间。
曝光过程
EUV光产生与聚焦:高功率激光照射锡靶等产生等离子体发射出EUV光,然后经过复杂的光学聚焦系统将EUV光聚焦到光刻胶表面。这个系统包括多个高精度的掠射镜(通常由钼 – 硅多层膜反射镜组成),这些反射镜具有特殊的设计,能够在极短波长下实现高反射率并将EUV光精确聚焦到预定区域,通过精确的光路控制保证光线准确地到达硅片上的目标区域。

精确曝光控制:根据设计的图案程序,通过计算机控制曝光区域和曝光剂量。由于EUV光的能量密度极高,对曝光时间和能量的精确控制是实现高精度图案的关键。例如,对于线宽为几纳米到几十纳米的线路图案,曝光能量过高或过低都会影响图案的尺寸精度和边缘粗糙度,所以要通过反馈控制系统实时监控和调整曝光参数,以确保曝光的准确性和稳定性。

显影过程
显影液与显影条件选择:针对EUV光刻胶的特性选择专用的显影液。显影液的化学组成和物理性质要匹配光刻胶在EUV曝光后的化学变化,能够精确地去除未曝光区域或者曝光区域(取决于光刻胶正负型)的光刻胶。显影过程中的温度、显影液流速等条件也要精确控制,例如显影温度可能需要控制在20 – 25℃之间,并以稳定的流率提供显影液确保显影的均匀性。
 
显影后处理:显影后需要对硅片进行严格的清洗,去除表面残留的显影液成分。因为EUV光刻工艺中光刻胶的涂层很薄且为纳米级别,如果残留有显影液成分可能会影响到后续的工艺(如蚀刻、离子注入等)或者在硅片上造成缺陷。清洗过程可能需要采用超纯水冲洗和特殊的化学清洗相结合的工艺,保证硅片表面洁净度达到原子级别。
高分辨检测技术应用:采用如电子显微镜(如扫描电子显微镜SEM、透射电子显微镜TEM等)对显影后的图案进行微观检测。这些显微镜能够提供纳米尺度甚至原子尺度的分辨率成像,可以准确地检测图案的线宽、间距、边缘粗糙度等关键参数。例如,在7nm及以下制程芯片制造中,利用TEM可以直接观测到单个原子层的结构,从而精确判断EUV光刻工艺中图案转移的准确性。

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